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EDXRF和WDXRF的X荧光光谱仪区别在哪?
发布时间:2019-05-30 09:45:44 点击:8983
有一次遇到一个客户,他想要WDXRF,XRF的意思是x射线光谱,我们的仪器缩写是EDXRF,客户想要购买的仪器是WDXRF,小编百度了,下面给大家说下这两种仪器的区别。
波长色散型(WDXRF)X射线荧光光谱仪和能量色散型(EDXRF)X射线是同属于X射线荧光分析仪,产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,WDXRF和EDXRF的原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别:
一、原理区别
X射线荧光光谱法,使用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线。WDXRF是用分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而EDXRF是借高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,所以他们的仪器结构也不同。
二、结构区别
WDXRF,一般由光源(X射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2—3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化而产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此WDXRF的价格往往比EDXRF高。
EDXRF,一般由光源(X射线管),样品室,各检测系统等组成,比WDXRF少了一个分光晶体,由于这一特点,使EDXRF具有如下的特点:
1、仪器结构简单,省略了浸提的精密运动装置,也无需精确调整。还避免了晶体衍射所造成的前度损失,光源使用的X射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。
2、EDXRF的光源,样品,检测器彼此靠的近,X射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累计整个光谱时,对样品位置变化不像WDXRF那样敏感,对样品形状也无特殊要求。
3、在能量色散光谱仪中,样品发出的全部特征X射线光子同时进入检测器,这样奠定了使用多道分析器和荧光同时累计和实现全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X射线光谱仪比晶体X射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。
4、EDXRF减少了化学状态引起的分析线波长的飘移影响。由于同时累积还减少了仪器的漂移影响,提高了净计算的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,减少偶然错误判断某元素的可能性。
EDXRF和WDXRF的X荧光光谱仪区别
三、功能区别
考虑到各种情况,EDXRF和WDXRF的检测限基本相同。但在(高能光子)范围内能量色散的分辨率好些,在长波(低能光子)范围内,波长色散的分辨率好些。就定性分析而言,在分析多种元素时能量色散优于单道晶体谱仪,就测量个别分析元素而言,波长色散好些。如果分析的元素事先不知道,用能量色散较好,而分析元素已知则用多道晶体色散仪好,对易受放射性损伤的样品,如果液体,有机物(可能发生辐射分解),玻璃品,工艺品(可能发生褪色)等,用WDXRF分析特别有利。WDXRF很适合动态系统的研究。如在催化,腐蚀,老化,磨损,改性和能量转换等于表面化学过程有关的研究。
总之,EDXRF和WDXRF两种仪器,各有所有点和不足,它们只能互补,而不能替代。
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